16象元硅光电二极管阵列 S11299-121
用于X射线无损检测的背照式光电二极管阵列 细长板类型
S11299-121是一款背照式16元光电二极管阵列，专为X射线无损检测设计。与S5668系列相比，它具有更高的灵敏度、均匀性和光电二极管元件稳定性。背照式光电二极管阵列具有便捷操作的特点，而且易于耦合到闪烁体，因为其背面没有接合线和光敏区域，不用担心损坏电路。S11299系列兼容双能量成像，因为它可与S11212系列[尺寸：25.4（宽）×20.0（高）mm]结合使用，配置上下两层结构，同时检测高、低X射线。
产品特性
● 象元尺寸：1.175 (W) × 2.0 (H) mm / 单象元
● 象元间距：1.575 mm (× 16 pixels)
● 板上尺寸：25.4 (W) × 10.2 (H) mm
● 多阵列，长而窄的设计版式
● 支持双能量成像（上下两层结合使用时）
详细参数
| 元素大小(每1列) | 1.175 × 2.0 mm |
| 像元个数 | 16 |
| 封装 | Glass epoxy |
| 封装类型 | With scintillator |
| 闪烁体类型 | CsI(Tl) |
| 制冷方式 | Non-cooled |
| 暗电流 (最大值) | 30 pA |
| 上升时间 (典型值.) | 6.5 μs |
| 结电容(典型值) | 40 pF |
| 测量条件 | Ta=25 ℃, per element |
外形尺寸（单位：mm）
