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该设备使用小角度光散射方法 (SALS) 实时、连续地评估聚合物和薄膜的结构。
由于光源使用可见光,因此与小角度 X 射线散射 (SAXS) 和小角中子散射 (SANS) 设备相比,可以评估更大的结构(微米级)。
使用偏振板进行Hv散射测量,可以评估光学各向异性,分析晶体结构,Vv散射测量可以评估聚合物混合物,并分析方向特性。
特点
※不使用HDR功能时
评估项目
聚合物混合物的相分离过程
聚合物结晶过程
晶体尺寸计算、晶体生长速度计算
取向状态
聚合过程
热固化过程
温度变化时的结构变化
拉伸引起的结构变化※
紫外线固化过程※
※另行咨询
测量范围(理论值)
球晶直径 1.3~270μm
相关长度 0.1 至 100μm
测量原理 | 小角度光散射法 |
光源 | 半导体激光器(波长785nm) |
探测器 | CMOS 摄像机 |
测量范围(理论值) | 球形直径 1.3 至 270μm 相关长度 0.1 至 100μm |
动态范围 | 120db 以上(使用 HDR 功能) |
测量散射角度 | 0.33°~45°(取决于摄像机长度) |
相机长度50mm150mm300mm角度范围2°~45°0.67°~18.4°0.33°~9.5°角度分辨率0.3°0.1°0.05° |
获取图像 | Hv光散射图像、Vv光散射图像 |
测量点 | 约 1 毫米 |
光束塞 | φ3mm |
测量时间 | 10msec~ ※ |
电源 | AC100-240V 75VA |
尺寸 | W350×D500×H760(mm) |
数据处理部 | 笔记本电脑 (Windows10) |