日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100
详情介绍：
相位差膜・光学材料检查设备 RETS-100
对应范围广，从反射型・透过型type的已封入液晶的cell到带有彩色滤光片的空cell都可对应
产品信息
特 点
• 采用了偏光光学系和多通道分光检出器
• 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板
• 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备
测量项目
• 封入cell gap
• twist角
• rubbing角
• pretilt角［TN,IPS,FFS,MVA］
• 空cell gap
• 相位差（复折射相位差）的波长分散
• 光学轴
• 椭圆率/方位角
• 三次元折射率/Rth/β
• 分光光谱/色度
测量对象
• 液晶cell
- 透过、半透过型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感应电）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
• 光学材料
- 其他（相位差・椭圆・偏光膜、液晶材料）
仕 样
型号 | RETS series |
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样品尺寸 | 20mm×20mm ～ * |
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cell gap测量范围 | 0.1μm ～ 数10μm |
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cell gap重复性 | ±0.005μm |
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检出器 | 多通道分光光度计 |
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测量波长范围 | 400nm ～ 800nm |
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光学系
透过用偏光子unit | 偏光光学系
消光比 10-5内置Gran-tomson prism（方解石）
自动旋转（角度精度0.1°）、自动装卸机构 |
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测量口径 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
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光轴倾斜机构 | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
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* 大型玻璃基板也可用（2000mm×2000mm以上）
测量案例
相位差与液晶层间隙值
液晶面内分布图
长期供应 大冢光学OTSUKA RETS-100 日本OTSUKA大冢相位差膜・光学材料检查设备RETS-100 苏州市新杉本电子科技有限公司/ 日本大冢OTSUKA 苏州新杉本直销/联系人陈小姐15250013623
