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长期供应 大冢光学OTSUKA FE-300 膜厚量测仪
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江苏-苏州
产品参数
品牌
苏州市新杉本
用途
薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析
产品参数
品牌
苏州市新杉本
用途
薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析
产地
大冢OTSUKA
型号
FE-300
产品
膜厚量测仪
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苏州市新杉本电子科技有限公司
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