长期供应 大冢光学OTSUKA RE-200 低相位差高速检查设备

苏州市新杉本电子科技有限公司/ 日本大冢电子OTSUKA 苏州新杉本直销/联系人陈小姐15250013623

特　長

• 0nmからの低（残留）リタデーション測定が可能

• 光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能
  （世界最速相当0.1秒以下での処理が可能）

• 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現

• 設定する測定項目が少なく、測定が簡単

• 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ

• Rth測定、全方位角測定が可能
  （オプションの自動回転傾斜治具が必要です

• 引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能
  (このシステムは特注対応となります。）

特　長

• リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）

• 主軸方位角（θ[deg.]）

• 楕円率（ε）・方位角（γ）

• 三次元屈折率（NxNyNz）

特　長

• 位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム

• 樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）

特 点

• 可测从0nm开始的低（残留）相位差
• 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于世界*快速的0.1秒以下来处理）
• 无驱动部，重复再现性高
• 设置的测量项目少，测量简单
• 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
• Rth测量、全方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
• 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
 (本系统属特注。）

测量项目

• 相位差（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主轴方位角（θ[deg.]）
• 椭圆率（ε）・方位角（γ）
• 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

• 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
• 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）

原　理

• 什么是RE-200
• RE-200是光子结晶素子（偏光素子）、CCD相机构成的偏光计测模块和透过的偏光光学系相组合，可高速且高精度的测量位相差（相位差）、及主轴方位角。CCD相机1次快门获取偏光强度模式，没有偏光子旋转的机构，系统整体上是属于小型构造，长时间使用也能维持稳定的性能。

仕　样

 Option
• Rth测量、全方位角测量※治具本体（旋转：180°, 倾斜：±50°）

• 动旋转倾斜治具